MDA-Lösungen auf ICT-Testsystemen

Unsere MDA-Prüflösungen (Manufacturing Defects Analyzing) berücksichtigen analoge In-Circuit Tests, die auf den gleichen Testsystemen laufen wie voll ausgebaute In-Circuit Tests und Funktionstests, beispielsweise auf Kombitestsystemen der Serien Agilent 3070, Agilent i5000 oder auf der MTS300 von Digitaltest. Mit vektorlosen Prüfmethoden wie z. B. TestJet, VTEP oder OpensCheck lassen sich auch Kontaktierungen integrierter Bauelemente prüfen.

Da bei unserer Interpretation eines MDA-Tests eine parallele Kontaktierung aller Prüfpunkte erfolgt und die gesamten Vorteile des In-Circuit-Tests zur Verfügung stehen, beträgt die Testzeit nur einen Bruchteil gegenüber dem seriell ablaufenden Flying-Probe-Verfahren. Dieser Vorteil (bei mittleren und großen Stückzahlen ohnehin offensichtlich) kann sich bereits bei der Prüfung kleinerer Losgrößen bezahlt machen, wie sie in der Vorserienproduktion anfallen. Insbesondere wenn man berücksichtigt, dass die gleiche Prüflösung später auch für die Hauptserienprüfung einsetzbar ist, wobei die Prüfabdeckung problemlos erweitert werden kann.

Bei entsprechenden Voraussetzungen kann proTest in wenigen Tagen eine MDA-Lösung für die Vorserienprüfung entwickeln und in Betrieb nehmen, die vor dem Start der Hauptserienfertigung bei Bedarf zu einem vollen In-Circuit Test ausgebaut und durch Funktionstests ergänzt wird.

Prüftechniken für MDA-Lösungen

• PinCheck
• Kurzschlussprüfung
• Analoger ICT ohne Baugruppenversorgung
• Vektorlose Prüftechniken (OpensCheck, TestJet, ConnectCheck, PolarityCheck)
• Optional: Spannungsversorgung des Prüflings
• Optional: Messung der von der Baugruppe erzeugten Spannungen