Funktionstests – FCT

Während beim In-Circuit Test die elektrischen Bauelemente, deren korrekter Einbau und die intakten, fehlerfreien Verbindungen zur Leiterplatte geprüft werden, kann mit Hilfe von Funktionstests (FCT) festgestellt werden, ob eine Baugruppe insgesamt oder in Teilbereichen entsprechend ihrer Anwendung funktioniert.

Beispiele für Funktionstests:

Automatische Farberkennung für Leuchtdioden
Leuchtdioden werden im In-Circuit-Test lediglich über ihre Vorwärtsspannung geprüft. Diese Prüfung ist aber nicht signifikant für die Farbe und Intensität der Leuchtdioden. Um den Farbwert exakt zu bestimmen, entwickeln wir Funktionstests unter Verwendung von Zusatz-Hardware.

Abgleich von Schaltungsteilen
Zur präzisen Anpassung sensitiver Schaltungsbereiche (beispielsweise Ein- oder Ausgänge) kann aufgrund von Bauelement- und Fertigungstoleranzen ein Abgleich erforderlich sein. Die mittels Referenzsignalquelle ermittelten Korrekturwerte werden dauerhaft in einem Speicherbereich der Baugruppe hinterlegt und ermöglichen so eine exakte Funktion dieser Schaltungsteile.

Beim Built-In Self Test werden Teilfunktionen der Schaltung oder auch die Gesamtfunktion mit Hilfe von baugruppeninternen Prüfprozeduren verifiziert. Diese integrierten oder temporär geladenen Prüfsequenzen werden von außen durch das Prüfprogramm initialisiert, getriggert und stellen nach Ablauf das Testergebnis inklusive einer eventuellen Fehleraussage bereit, welche wiederum durch das Prüfprogramm ausgewertet und dem Operator in nutzbarer Form mitgeteilt wird.

• Beispiel 1: Hohe Taktraten von SD-RAMs können vom Testsystem nicht stimuliert werden. Der Built-In Self Test wird angestoßen und gibt eine Fehlersignatur aus, die abgebildet und protokolliert wird.
• Beispiel 2: Komponenten für Systeme mit besonders hohen Sicherheitsanforderungen oder nicht offengelegten Funktionen (Militärtechnik).