ICT – In-Circuit Test

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

In-Circuit Tests von proTest umfassen alle Prüftechniken, die bereits für MDA-Lösungen auf ICT-Testsystemen eingesetzt werden. Hinzu kommen der digitale In-Circuit Test (DICT), das Analog Powered Testing (APT) und Tests, die auf der Boundary-Scan-Fähigkeit von Baugruppen basieren (BSC). Um bei In-Circuit Tests eine hohe Prüfabdeckung zu erreichen, müssen auch für komplex zu prüfende Baugruppen Lösungen gefunden werden. Beispielsweise werden Bauelemente mit nicht zugriffsfähigen Anschlüssen in Schaltungsblöcken getestet (Clustertest).

Zugriff auf jedes Netz

proTest ist darauf spezialisiert, die Boundary-Scan-Fähigkeit bestimmter Bauelemente auszunutzen, um die elektrische Verbindung zur Leiterplatte zu testen. Über die BSDL-Datei des Herstellers werden Vektoren generiert, die für die Prüfung verwendet werden – je nach Kundenanforderungen und vorhandenen Softwareoptionen. Aber auch bei fehlenden Prüfpunkten in Boundary-Scan-Schaltungsbereichen bietet diese Prüfmethode enorme Vorteile, um dennoch die volle Prüfabdeckung zu erzielen. Selbst bei anliegenden, nicht boundary-scan-fähigen Bauelementen kann ein virtueller Zugriff geschaffen werden (Silicon-Nails).

Lösungen auf der Basis von Boundary Scan:

  • Single-Chip-BSC-Lösungen
  • Multi-Chip-BSC-Lösungen (einschließlich Interconnect-Test)
  • Silicon-Nail-Test

Risikoarmes Prüfen

Der gesamte Prüfprozess wäre kontraproduktiv, wenn bei ihm die Baugruppe, einzelne Bauelemente oder gar das Testsystem Schaden nehmen würden, beispielsweise durch Back-Driving. Um derartige Risiken auszuschließen, setzen wir nach Möglichkeit ausschließlich Tests ein, die nach Datenblatt oder Prüfspezifikation erstellt sind und ein definiertes Abschalten (High-Z-Zustand) benachbarter Bauelementanschlüsse berücksichtigen. Aber auch im Adapterbau legen wir höchstes Augenmerk auf eine stressfreie Kontaktierung. Bei Bedarf stehen wir unseren Kunden beratend zur Seite („Design for Testability“).

Über 1200 Prüfmodelle für Kundenprojekte

Im Laufe der Jahre haben wir eine Bibliothek von über eintausend Prüfmodellen entwickelt, die frei für neue Kundenprojekte eingesetzt werden können. Dabei handelt es sich um Modelle für Baugruppen unterschiedlichen Integrationsgrades – vom einfachen Pegelwandler oder Transmitter über Analog-Digital-Wandler bis hin zu Mikroprozessoren oder ASICs.

Prüfmodelle, die wir explizit im Auftrag eines Kunden entwickeln, nehmen wir selbstverständlich nicht in diese offene Bibliothek auf, sondern verwenden sie ausschließlich in den Projekten des Auftraggebers.