Einsatz kostenoptimierender Prüfstrategien

In-Circuit Tests sind Bestandteil des Fertigungsprozesses. Daher werden die Tests nicht nur auf eine optimale Prüftiefe sondern auch auf einen hohen Durchsatz ausgelegt. Die optimale Prüfstrategie folgt den spezifischen Anforderungen der Baugruppe und der Fertigung.

Paneltest. Baugruppen, die im Nutzen gefertigt werden, können auch als solches geprüft werden. Hierzu legen wir großes Augenmerk auf optimierte, identische Tests. Sollten die Testressourcen an die Grenzen stoßen, liefern wir entsprechende Konzepte und stellen Zusatzelektroniken bereit.

Multiple Boards. Um Adaptergrundkosten einsparen zu können, bieten wir die Möglichkeit, unterschiedliche Baugruppen auf einem Prüfadapter zu platzieren. Dabei beachten wir ergonomische Aspekte. Ein weiterer Vorteil ergibt sich aus der Reduzierung des Lagerplatzes für die Adapter.

Multiple Version. Verschiedenartige Bestückungsvarianten und unterschiedlich zu programmierende Softwarestände werden im Testprogramm berücksichtigt. Beim Prüfen wird die korrekte Version automatisch über die eingelesene Seriennummer oder über eine manuelle Eingabe ausgewählt.

Throughput Multiplier. Das Paralleltestverfahren ermöglicht, Baugruppen gleichzeitig zu prüfen. Prüfzeiten werden reduziert, der Durchsatz vervielfacht.

Tandemverfahren. Arbeit mit zwei Baugruppenaufnahmen und getrennten Vakuumkammern. Während mit der ersten Aufnahme geprüft wird, kann am zweiten Pinfeld bereits eine neue Baugruppe eingelegt werden. Damit lassen sich Unterbrechungen durch das Handling der Baugruppen nahezu eliminieren.

Prüfstrategien im Überblick:

• Multiple Boards
• Multiple Versions
• Paneltest
• Throughput Multiplier
• Tandemverfahren