In-Circuit Test für eine Hochfrequenz-Baugruppe

Das Anwendungsbeispiel zeigt eine HF-Baugruppe aus der Telekommunikationstechnik. Der Prüfumfang erstreckt sich vom In-Circuit-Test über die On-Board-Programmierung bis hin zu kleineren Funktionstests.

Die HF-Eigenschaften und über 2500 elektrische Netze (davon über 500 ohne Zugriff) bestimmten den Aufwand wesentlich. Zahllose niedrige Kapazitäten und niederohmige Bauelemente – meist Induktivitäten – stellen eine hohe Herausforderung an den In-Circuit-Test. Größtmögliche Messgenauigkeit wird durch etwa 800 Kelvinmessungen erzielt. Clustertests und Silicon-Nails-Tests decken Bauelemente mit nicht zugriffsfähigen Anschlüssen ab. Interferenzen durch Schwingkreise sind durch geeignete Messmethoden zu unterbinden.

Um die Baugruppe unter Versorgung prüfen zu können ist die Programmierung eines Power-Management-CPLDs erforderlich. Erst danach liegen „on-board“ generierte Spannungen an. Zur Programmierung der Daten musste eine spezielle Konvertierung entwickelt werden.

Für die Programmierung des Flashs konnte ein Modellpaket aus der offenen proTestBibliothek beigestellt werden, welches einen Erase-, einen Blank-Check- und einen Verifikationstest einschließt.
 
Das Prüfprogramm enthält auch eine Funktionsprüfung:
Die automatische Farberkennung der bestückten Leuchtdioden erfolgt mittels einer Funktionstesteinheit der Fa. Premosys.

Der Prüfadapter ist durch eine beidseitige Kontaktierung (Dual Access) gekennzeichnet. Optional bestückte HF-Abschirmkäfige erschweren den Aufbau des Niederhaltesystems. Als Lösung kommen speziell gefertigte Andruckplatten zum Einsatz, die ein verwindungsfreies, optimales Niederhalten des Prüflings gewährleisten.

Das Projekt auf einen Blick:

• HF-Baugruppe
• In-Circuit Test und Funktionstests
• 2520 Knoten, 512 ohne Zugriff
• Dual Access - 1132 Transfer-Pins
• On-Board-Programmierung: Flashs und CPLDs
• Automatische Farberkennung von Leuchtdioden